产品与服务

扬芯科技(深圳)有限公司

追本溯源,让设计更简单!

扬芯科技(深圳)有限公司是一家专门从事自动化测试解决方案开发及全流程一站式技术服务的企业。为客户提供从芯片、 器件、组件到整机的电磁兼容和射频可靠性诊断分析测试解决方案。

公司依托国内一流通信企业技术背景,在电磁兼容和射频领域拥有大批经验丰富的专业技术人才,由多位行业专家及高级工程师共同构筑了实力雄厚的研发团队。

公司始终聚焦客户需求和行业挑战,立足于国际国内标准法规技术前沿,自主研发、开拓创新,坚持以自动化、可视化、系统化、智能化解决方案开发为核心,是电磁领域诊断分析测试方案开发、销售,研发级检 测分析服务、产品级解决方案提供,技术服务与咨询 的全方位电磁兼容和射频解决方案供应商。

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产品与服务

  • 无线性能与综合指标测试解决方案
  • 电磁可靠性诊断分析解决方案
定制化开发
  • 型号: 定制
  • 名称: 定制化开发
  • 简述: 公司研发人员均在该领域拥有10到20年的工作经验,对行业有深厚的认知,对工艺有深刻的理解。通过不断的技术积累和创新,公 司依托仪器仪表和设备集成能力,机器人控制和视觉处理能力,非标设计和加工生产能力,天线/探头开发和配套设备运用能力及软件开发 能力,给客户提供电磁兼容和射频相关领域诊断、分析、测试的自动化解决方案。在方案设计中始终坚持降低整体成本,提高工作效率,替代非必要重复性工作,保障结果准确性和一致性,最终解决客户从芯片、器件、组件到整机的研发、生产过程中的痛点和难点问题,与客户共同成长。
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辐射杂散快速测试系统
  • 型号: TS13
  • 名称: 辐射杂散快速测试系统
  • 简述: 辐射杂散快速测试系统, 采用多方位、多天线快速切换测试,在保障测试结果准确性的前提 下,缩短了测试时间,提升了测试效率,降低了测试成本,并且在分 析定位时可以快速确认最差点方向。整套测试系统一体化设计,简洁 美观,占用空间小,可便捷移动,可用于产品研发阶段辐射杂散问题分析及生产阶段的批量抽检。
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无线性能预测试系统
  • 型号: TS18
  • 名称: 无线性能预测试系统
  • 简述: TS18无线性能预测试系统,测试方法与标准全电波暗室测试方法相同,测试结果一致性 高,效率高,便捷省成本,应用场景灵活。针对EME测试,仅需增加一台仪器即可节省大量外场测试时间和精力,测试结果稳定可复现,系 统即可以进行预测试,也可用于问题的诊断分析,是产品研发阶段解决无线性能问题的有效工具。
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无源互调(PIM)诊断定位系统
  • 型号: 无源互调(PIM)诊断定位系统
  • 名称: 无源互调(PIM)诊断定位系统
  • 简述: 可视化PIM诊断分析系统采用扫描的方法来确认PIM源,系统PIM探头使用低无源互调方法设 计和制造,不会作为无源互调源,确保了系统的准确性。此外,PIM 探头可定制延长,以保障手动测试时测试操作人员与被测天线保持 安全距离,系统即可以用于暗室内精描测试,也可用于手持式简单 快速测试,是PIM恶化快速定位的有效工具。
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电源纹波自动测试系统
  • 型号: 电源纹波自动测试系统
  • 名称: 电源纹波自动测试系统
  • 简述: 纹波自动化测试系统可用于手机主板、模组等 部件进行电压纹波测试,测试过程中无人值守,测试结果一致性高,支持自动判定测试结果,自动记录数据,一键生成测试报告, 适合研发测试和大批量快速测试,极大提供效率、降低成本。
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EOS电应力测试系统
  • 型号: LVS6
  • 名称: EOS电应力测试系统
  • 简述: EOS电应力测试系统,可对电压、电流、脉冲宽度、电压极性、测试次数等关键指标进行灵活的设置,以模拟和评估电子产品受到的真实电应力,测试仪支持自动化测 量,对电子产品固有的电抗力特性进行准确量化分析和故障复现,是评估电子产品固有抗力性能,解决电子产品防护能力不足的有效方案。
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可视化瞬态抗扰度诊断分析系统
  • 型号: ES26-ESD/EFT
  • 名称: 可视化瞬态抗扰度诊断分析系统
  • 简述: 可视化ESD抗扰度诊断分析系统,按照IEC 61000-4-2 ESD抗扰度标 准,用耦合探头对待测物精准的施加干扰,通过测试软件实时记录和调整 静电干扰的量级和产品的性能指标,可视化确认PCB板上最敏感的部位。 可视化EFT诊断分析系统,通过小范围磁场耦合的方式,精确分析敏感电 路,量化敏感等级,可视化的呈现敏感区域。可视化ESD/EFT抗扰度诊断 分析系统,可用于元器件、模组、整机在设计、研发、生产过程中的ESD/ EFT测试和问题诊断分析,快速解决产品问题,提高效率和产品质量。
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可视化辐射抗扰度诊断分析系统
  • 型号: IS32
  • 名称: 可视化辐射抗扰度诊断分析系统
  • 简述: 可视化辐射抗扰度诊断分析系统可用于对芯片、元器件、模组件、FPC、PCBA等部件和整机进行近场辐射抗扰度故障模拟、自动化测量、可视化呈现、是解决复杂电磁辐射抗扰度问题的有效工具。
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可视化电磁辐射诊断分析系统
  • 型号: ES67
  • 名称: 可视化电磁辐射诊断分析系统
  • 简述: 可视化近场辐射诊断分析系统可用于芯片、元器件、模组件、FPC、PCBA等部件和整机进行近场EMI辐射发射噪声的自动化测量、可视化呈现、多维度分析,是解决各种复杂电磁辐射骚扰问题的有效工具。
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