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无源互调(PIM)诊断定位系统
  • 型号： 无源互调(PIM)诊断定位系统
  • 名称： 无源互调(PIM)诊断定位系统
  • 简述： 可视化PIM诊断分析系统采用扫描的方法来确认PIM源，系统PIM探头使用低无源互调方法设 计和制造，不会作为无源互调源，确保了系统的准确性。此外，PIM 探头可定制延长，以保障手动测试时测试操作人员与被测天线保持 安全距离，系统即可以用于暗室内精描测试，也可用于手持式简单 快速测试，是PIM恶化快速定位的有效工具。
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电源纹波自动测试系统
  • 型号： 电源纹波自动测试系统
  • 名称： 电源纹波自动测试系统
  • 简述： 纹波自动化测试系统可用于手机主板、模组等 部件进行电压纹波测试，测试过程中无人值守，测试结果一致性高，支持自动判定测试结果，自动记录数据，一键生成测试报告， 适合研发测试和大批量快速测试，极大提供效率、降低成本。
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EOS电应力测试系统
  • 型号： LVS6
  • 名称： EOS电应力测试系统
  • 简述： EOS电应力测试系统，可对电压、电流、脉冲宽度、电压极性、测试次数等关键指标进行灵活的设置，以模拟和评估电子产品受到的真实电应力，测试仪支持自动化测 量，对电子产品固有的电抗力特性进行准确量化分析和故障复现，是评估电子产品固有抗力性能，解决电子产品防护能力不足的有效方案。
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可视化瞬态抗扰度诊断分析系统
  • 型号： ES26-ESD/EFT
  • 名称： 可视化瞬态抗扰度诊断分析系统
  • 简述： 可视化ESD抗扰度诊断分析系统，按照IEC 61000-4-2 ESD抗扰度标 准，用耦合探头对待测物精准的施加干扰，通过测试软件实时记录和调整 静电干扰的量级和产品的性能指标，可视化确认PCB板上最敏感的部位。 可视化EFT诊断分析系统，通过小范围磁场耦合的方式，精确分析敏感电 路，量化敏感等级，可视化的呈现敏感区域。可视化ESD/EFT抗扰度诊断 分析系统，可用于元器件、模组、整机在设计、研发、生产过程中的ESD/ EFT测试和问题诊断分析，快速解决产品问题，提高效率和产品质量。
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可视化辐射抗扰度诊断分析系统
  • 型号： IS32
  • 名称： 可视化辐射抗扰度诊断分析系统
  • 简述： 可视化辐射抗扰度诊断分析系统可用于对芯片、元器件、模组件、FPC、PCBA等部件和整机进行近场辐射抗扰度故障模拟、自动化测量、可视化呈现、是解决复杂电磁辐射抗扰度问题的有效工具。
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可视化电磁辐射诊断分析系统
  • 型号： ES67
  • 名称： 可视化电磁辐射诊断分析系统
  • 简述： 可视化近场辐射诊断分析系统可用于芯片、元器件、模组件、FPC、PCBA等部件和整机进行近场EMI辐射发射噪声的自动化测量、可视化呈现、多维度分析，是解决各种复杂电磁辐射骚扰问题的有效工具。
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