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无线性能与综合指标测试解决方案
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无线性能与综合指标测试解决方案
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定制化开发
型号:
定制
名称:
定制化开发
简述:
公司研发人员均在该领域拥有10到20年的工作经验,对行业有深厚的认知,对工艺有深刻的理解。通过不断的技术积累和创新,公 司依托仪器仪表和设备集成能力,机器人控制和视觉处理能力,非标设计和加工生产能力,天线/探头开发和配套设备运用能力及软件开发 能力,给客户提供电磁兼容和射频相关领域诊断、分析、测试的自动化解决方案。在方案设计中始终坚持降低整体成本,提高工作效率,替代非必要重复性工作,保障结果准确性和一致性,最终解决客户从芯片、器件、组件到整机的研发、生产过程中的痛点和难点问题,与客户共同成长。
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辐射杂散快速测试系统
型号:
TS13
名称:
辐射杂散快速测试系统
简述:
辐射杂散快速测试系统, 采用多方位、多天线快速切换测试,在保障测试结果准确性的前提 下,缩短了测试时间,提升了测试效率,降低了测试成本,并且在分 析定位时可以快速确认最差点方向。整套测试系统一体化设计,简洁 美观,占用空间小,可便捷移动,可用于产品研发阶段辐射杂散问题分析及生产阶段的批量抽检。
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无线性能预测试系统
型号:
TS18
名称:
无线性能预测试系统
简述:
TS18无线性能预测试系统,测试方法与标准全电波暗室测试方法相同,测试结果一致性 高,效率高,便捷省成本,应用场景灵活。针对EME测试,仅需增加一台仪器即可节省大量外场测试时间和精力,测试结果稳定可复现,系 统即可以进行预测试,也可用于问题的诊断分析,是产品研发阶段解决无线性能问题的有效工具。
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