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可视化电磁辐射诊断分析系统

  • 型号: ES67
  • 名称: 可视化电磁辐射诊断分析系统
  • 简述: 可视化近场辐射诊断分析系统可用于芯片、元器件、模组件、FPC、PCBA等部件和整机进行近场EMI辐射发射噪声的自动化测量、可视化呈现、多维度分析,是解决各种复杂电磁辐射骚扰问题的有效工具。
  • 品牌: ICEM

整体介绍

■  带无线射频功能的电子产品,除了要解决常规EMC干扰问题外, 射频电路和天线与产品中各电路走线、功能组件、关键IC和元器件等 部件之间,也会发生电磁干扰问题。主要表现为射频相关信号干扰其他部件,导致产品性能的下降或丧失。另外,由于产品布局布线、器件选型不佳等原因,产品内一些器件在工作时产生的无意发射电磁噪声也会干扰到射频电路和天线,导致射频灵敏度指标的下降,从而影响产品的无线性能。以上两类问题的解决,必须要能够基于实际场景评估干扰风险,准确分析关联器件和部件的辐射特性及射频抗扰度特性。可视化辐射抗扰度诊断分析系统可用于对芯片、元器件、模组件、FPC、PCBA等部件和整机进行近场辐射抗扰度故障模拟、自动化测量、可视化呈现、是解决复杂电磁辐射抗扰度问题的有效工具。电子电气产品在电磁兼容设计时,最大的难点在于不能提前识别各芯片、组件、器件、走线等的电磁辐射特性。在整机的架构堆叠和布局布线设计中,辐射骚扰较强的器件与辐射抗扰度较差的器件之前没有充足的隔离度,是导致产品内部互干扰问题产生的根本原因。并且,要解决产品电磁兼容问题,必须清楚的识别和分析其三要素:干扰源、传播路径、敏感源。可视化近场辐射诊断分析系统可用于芯片、元器件、模组件、FPC、PCBA等部件和整机进行近场EMI辐射发射噪声的自动化测量、可视化呈现、多维度分析,是解决各种复杂电磁辐射骚扰问题的有效工具。

关键技术指标

■  测量标准:IEC61967-3                           

■  频率范围:100KHz-44GHz

■  X、Y方向重复精度:±0.02mm

■  α方向重复精度:±0.01°

■  测量范围:500mm* 650mm(可扩展)

■  灵敏度:≤ -120dB (典型)                

■  测量一致性:±2dB

■  供电:AC220V,50Hz

■  仪表:内置频谱仪或市面主流频谱仪型号 

■  暗室/屏蔽室屏效:≥80dB(典型)

产品特点

■  【高效】:扫描速度快,测量时间短,自动化测量,省时、高效;自动生成测试分析报告; 

■  【精确】:频率分辨率高、噪声源定位精确,数据准确可信,清楚的分析电磁兼容三要素;

■  【一致】:空间定位精度高,测试数据实时保存,可重复精度高,测量一致性高;

■  【灵敏】:测量系统底噪低测量灵敏度高,准确测量分析小信号的辐射和干扰问题;

■  【可视】:辐射骚扰源分布及噪声位置与芯片、器件、电路走线直接对应,分析结果直观可视;

■  【智能】:最强噪声源、各频率点噪声、全频谱特性等多维度智能分析;

■  【兼容】:支持6轴/4轴控制;支持暗室/屏蔽房安装;支持各厂家型号频谱仪; 

■  【便捷】:整机一体化设计,无需施工安装,系统美观,体积小,重量轻,移动方便。

应用场景

■  芯片、元器件、模组件、整机辐射骚扰测量与诊断分析;

■  辐射杂散测量与诊断分析;

■  适用于消费电子、工业医疗、能源电力、轨道交通等行业;

■  适用于高校、研究所等研究和开发机构。

型号ES67
名称可视化电磁辐射诊断分析系统
简述可视化近场辐射诊断分析系统可用于芯片、元器件、模组件、FPC、PCBA等部件和整机进行近场EMI辐射发射噪声的自动化测量、可视化呈现、多维度分析,是解决各种复杂电磁辐射骚扰问题的有效工具。
品牌ICEM
* 产品参数以最新生产出厂规格参数为准。
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