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辐射杂散快速测试系统
  • 型号： TS13
  • 名称： 辐射杂散快速测试系统
  • 简述： 辐射杂散快速测试系统， 采用多方位、多天线快速切换测试，在保障测试结果准确性的前提 下，缩短了测试时间，提升了测试效率，降低了测试成本，并且在分 析定位时可以快速确认最差点方向。整套测试系统一体化设计，简洁 美观，占用空间小，可便捷移动，可用于产品研发阶段辐射杂散问题分析及生产阶段的批量抽检。
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无线性能预测试系统
  • 型号： TS18
  • 名称： 无线性能预测试系统
  • 简述： TS18无线性能预测试系统，测试方法与标准全电波暗室测试方法相同，测试结果一致性 高，效率高，便捷省成本，应用场景灵活。针对EME测试，仅需增加一台仪器即可节省大量外场测试时间和精力，测试结果稳定可复现，系 统即可以进行预测试，也可用于问题的诊断分析，是产品研发阶段解决无线性能问题的有效工具。
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可视化瞬态抗扰度诊断分析系统
  • 型号： ES26-ESD/EFT
  • 名称： 可视化瞬态抗扰度诊断分析系统
  • 简述： 可视化ESD抗扰度诊断分析系统，按照IEC 61000-4-2 ESD抗扰度标 准，用耦合探头对待测物精准的施加干扰，通过测试软件实时记录和调整 静电干扰的量级和产品的性能指标，可视化确认PCB板上最敏感的部位。 可视化EFT诊断分析系统，通过小范围磁场耦合的方式，精确分析敏感电 路，量化敏感等级，可视化的呈现敏感区域。可视化ESD/EFT抗扰度诊断 分析系统，可用于元器件、模组、整机在设计、研发、生产过程中的ESD/ EFT测试和问题诊断分析，快速解决产品问题，提高效率和产品质量。
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可视化辐射抗扰度诊断分析系统
  • 型号： IS32
  • 名称： 可视化辐射抗扰度诊断分析系统
  • 简述： 可视化辐射抗扰度诊断分析系统可用于对芯片、元器件、模组件、FPC、PCBA等部件和整机进行近场辐射抗扰度故障模拟、自动化测量、可视化呈现、是解决复杂电磁辐射抗扰度问题的有效工具。
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可视化电磁辐射诊断分析系统
  • 型号： ES67
  • 名称： 可视化电磁辐射诊断分析系统
  • 简述： 可视化近场辐射诊断分析系统可用于芯片、元器件、模组件、FPC、PCBA等部件和整机进行近场EMI辐射发射噪声的自动化测量、可视化呈现、多维度分析，是解决各种复杂电磁辐射骚扰问题的有效工具。
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Labseek智审
  • 型号： 定制
  • 名称： Labseek 实验室AI报告审核
  • 简述： 面向企业质检部门的智能报告审核平台，利用AI视觉识别技术自动发现测试报告中的不规范问题，将人工审核时间从数小时缩短至分钟级。
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机器人应用
  • 型号： 定制
  • 名称： 机器人应用
  • 简述： 机器人辅助搬运样品，机器人接待，机器人setup测试，机器人协助应急管理，机器人协助测试，机器人黑灯实验室，机器人值守实验室。
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材料&器件定制与选型
  • 型号： 定制
  • 名称： 材料&器件定制与选型
  • 简述： 器件解决方案，成本控制，品类齐全
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电磁兼容方案设计
  • 型号： 整改系列
  • 名称： 电磁兼容方案设计
  • 简述： 检测数据分析 问题快速定位 精准整改方案
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全流程EMC正向设计
  • 型号： 整改系列
  • 名称： 全流程EMC正向设计
  • 简述： 从立项评审、风险评估，到产品设计评审、整改分析，最后通过检测认证，量产出货，全流程方案设计
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